এই পডকাস্টটি সম্বন্ধে 🔗

আপডেট ফ্রিকোয়েন্সি:
weekly
ইংরেজি
যুক্তরাজ্য
20 পর্ব
17 সেপ্টেম্বর, 2009থেকে
episodic

সাম্প্রতিক এপিসোড 🔗

Outline:Background informationPrinciples of reliability physicsClassification of Electronic ReliabilityStructure Defects in Electronic MaterialsConclusions

অতীতের এপিসোডগুলি অনুসন্ধান করুন

[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability এর অতীতের এপিসোডগুলি অনুসন্ধান করুন।

পূর্ববর্তী এপিসোডসমূহ

Outline:Breakdown in gas dielectric and Paschen’s lawSpatial and temporal dynamics during breakdownBreakdown in bulk oxides: puzzleTheory of pre-existing defects: Thin oxidesTheory of pre-existing defects: thick oxidesConclusions
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Outline:Introduction: definitions and review
Reaction diffusion in fractal volumesCarrier transport in BH solar cellsAll phase transitions are not fractalConclusions
দাবি পরিত্যাগ: এই পৃষ্ঠায় এম্বেড করা পডকাস্ট এবং আর্টওয়ার্ক Muhammad A. Alam থেকে এসেছে, যা এর মালিকের সম্পত্তি এবং Listen Notes, Inc দ্বারা অনুমোদিত বা অনুমোদিত নয়৷