![[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability](https://cdn-images-3.listennotes.com/podcasts/audio-nanostructured-electronic-devices-oSACdcjPsBr-VujbOtN91v-.300x300.jpg)
এই পর্বের অডিওটি ভেঙে যেতে পারে।
How to fix it?
এই এপিসোড সম্বন্ধে
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
ইংরেজি
যুক্তরাজ্য
অতীতের এপিসোডগুলি অনুসন্ধান করুন
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability এর অতীতের এপিসোডগুলি অনুসন্ধান করুন।
এই পডকাস্টের অন্যান্য পর্বগুলি৷
দাবি পরিত্যাগ: এই পৃষ্ঠায় এম্বেড করা পডকাস্ট এবং আর্টওয়ার্ক Muhammad A. Alam থেকে এসেছে, যা এর মালিকের সম্পত্তি এবং Listen Notes, Inc দ্বারা অনুমোদিত বা অনুমোদিত নয়৷
সম্পাদনা
পডকাস্ট ডেটাবেস আপ টু ডেট রাখতে সাহায্য করার জন্য আপনাকে ধন্যবাদ।
