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更新頻度:
weekly
英語
イギリス
20 エピソード
2009年9月17日から
episodic

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Outline:Background informationPrinciples of reliability physicsClassification of Electronic ReliabilityStructure Defects in Electronic MaterialsConclusions

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Outline:Breakdown in gas dielectric and Paschen’s lawSpatial and temporal dynamics during breakdownBreakdown in bulk oxides: puzzleTheory of pre-existing defects: Thin oxidesTheory of pre-existing defects: thick oxidesConclusions
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Outline:Introduction: definitions and review
Reaction diffusion in fractal volumesCarrier transport in BH solar cellsAll phase transitions are not fractalConclusions
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