[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
✓

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

0
Podcasts
RSS
Link
เสียงของตอนนี้อาจแตกได้ How to fix it?

เกี่ยวกับตอนนี้

Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
ภาษาอังกฤษ
ประเทศอังกฤษ
ใช้APIเพื่อดึงข้อมูลตอนนี้ในJSON

ค้นหาตอนที่ผ่านมา

ค้นหาตอนที่ผ่านมาของ [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
ฝังแถบค้นหานี้ในเว็บไซต์ของคุณ

ตอนอื่นๆ ใน PODCAST นี้

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

None
แชร์
บันทึก
Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

None
แชร์
บันทึก
Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

None
แชร์
บันทึก
Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

None
แชร์
บันทึก
Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

None
แชร์
บันทึก
ข้อสงวนสิทธิ์: พอดแคสต์และอาร์ตเวิร์คที่ฝังอยู่ในหน้านี้มาจาก Muhammad A. Alam ซึ่งเป็นทรัพย์สินของเจ้าของและไม่มีส่วนเกี่ยวข้องหรือรับรองโดย Listen Notes, Inc.
PROMOTED
We’re selling some of our podcast-related domain names, including breaker.fm, Podcast.mov, and Listen.Host. Place your bid on eBay.
We’re selling some of our podcast-related domain names, including breaker.fm, Podcast.mov, and Listen.Host. Place your bid on eBay.
Bid on eBay
ที่อื่น
Listen on Amazon Music

รายการแนะนำ
ใช้ API เพื่อดึงข้อมูลตอนนี้