[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
✓

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

0
Podcasts
RSS
Link
Ljudet från det här avsnittet kan vara trasigt. How to fix it?

OM DETTA AVSNITT

Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Engelsk
Storbritannien
AnvändAPIför att hämta det här avsnittet iJSON

SÖK TIDIGARE AVSNITT

Sök efter tidigare avsnitt från [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
Bädda in sökfältet på din webbplats

ANDRA EPISODER I DENNA PODCAST

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

None
DELA
SPARA
Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

None
DELA
SPARA
Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

None
DELA
SPARA
Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

None
DELA
SPARA
Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

None
DELA
SPARA
Ansvarsfriskrivning: Podcasten och konstverket som är inbäddat på den här sidan är från Muhammad A. Alam, som är dess ägares egendom och inte anslutet till eller godkänt av Listen Notes, Inc.
PROMOTED
Listen411.com: Lightning-fast Podcast Transcription and Summarization. Transcribe 1-hour audio in under 1 minute. Pay-as-you-go.
Listen411.com: Lightning-fast Podcast Transcription and Summarization. Transcribe 1-hour audio in under 1 minute. Pay-as-you-go.
Audio to Text

REKOMMENDATIONER
Använd API för att hämta detta avsnitt