![[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability](https://cdn-images-3.listennotes.com/podcasts/audio-nanostructured-electronic-devices-bEvKcfM9gOZ-b5-ZwrgxmtK.300x300.jpg)
Możliwe, że dźwięk tego odcinka jest uszkodzony.
How to fix it?
O TYM ODCINKU
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Język angielski
Zjednoczone Królestwo
WYSZUKAJ MINIONE ODCINKI
Wyszukaj minione odcinki [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
INNE ODCINKI W TYM PODCASCIE
Zastrzeżenie: Podcast i grafika osadzone na tej stronie pochodzą z Muhammad A. Alam, który jest własnością jego właściciela i nie jest powiązany ani wspierany przez Listen Notes, Inc.
EDYTUJ
Dziękujemy za pomoc w aktualizowaniu podcastowej bazy danych.
