Audio di episode ini mungkin rusak.
How to fix it?
TENTANG EPISODE INI
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Inggris
Britania Raya
CARI EPISODE TERDAHULU
Cari episode sebelumnya dari [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
EPISODE LAIN DALAM PODCAST INI
Sanggahan: Podcast dan karya seni yang disematkan pada halaman ini berasal dari Muhammad A. Alam, yang merupakan milik pemiliknya dan tidak berafiliasi atau didukung oleh Listen Notes, Inc.
Sunting
Terima kasih telah membantu agar basis data podcast tetap terbaru