[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
✓

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

0
Podcasts
RSS
Link
ייתכן שהשמע של פרק זה משובש. How to fix it?

אודות פרק זה

Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
אנגלית
הממלכה המאוחדת
השתמש ב-APIכדי להביא פרק זה ב-JSON

חיפוש פרקים ישנים

חפש פרקים קודמים של [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
הטמע סרגל חיפוש זה לאתר שלך

פרקים אחרים בפודקאסט הזה

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

None
שתף
שמור
Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

None
שתף
שמור
Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

None
שתף
שמור
Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

None
שתף
שמור
Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

None
שתף
שמור
הצהרה: הפודקאסט והגרפיקה המוטבעים בדף זה הם מ-Muhammad A. Alam, שהוא רכושו של בעליו ואינו קשור או מאושר על ידי Listen Notes, Inc.
PROMOTED
The best Podcast API to search all podcasts and episodes. Trusted by 15,200+ companies and developers.
The best Podcast API to search all podcasts and episodes. Trusted by 15,200+ companies and developers.
PodcastAPI.com
במקום אחר
Listen on Amazon Music

המלצות
השתמש/י בממשק ה-API כדי להביא פרק זה