[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
✓

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

0
Podcasts
RSS
Link
Tämän jakson äänitiedosto saattaa olla viallinen. How to fix it?

TIETOJA TÄSTÄ JAKSOSTA

Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Englanti
Yhdistynyt kuningaskunta
KäytäAPI:tä tämän jakson hakemiseenJSON:ssä

HAE EDELLISIÄ EPISODEJA

Hae kanavan [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability vanhoja jaksoja.
Upota tämä hakupalkki verkkosivustollesi

MUITA jaksoja TÄSSÄ PODCASTISSA

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

None
JAA
TALLENNA
Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

None
JAA
TALLENNA
Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

None
JAA
TALLENNA
Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

None
JAA
TALLENNA
Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

None
JAA
TALLENNA
Vastuuvapautusilmoitus: Tälle sivulle upotettu podcast ja kuvitus ovat peräisin Muhammad A. Alam:ltä, joka on sen omistajan omaisuutta, eikä se ole sidoksissa Listen Notes, Inc:n tukemaan.
PROMOTED
The best Podcast API to search all podcasts and episodes. Trusted by 15,200+ companies and developers.
The best Podcast API to search all podcasts and episodes. Trusted by 15,200+ companies and developers.
PodcastAPI.com

SUOSITUKSET
Käytä API:a tämän episodin hakemiseen