SELLEST OSAST
Outline:Breakdown in gas dielectric and Paschen’s lawSpatial and temporal dynamics during breakdownBreakdown in bulk oxides: puzzleTheory of pre-existing defects: Thin oxidesTheory of pre-existing defects: thick oxidesConclusions
Inglise
Ühendkuningriik
OTSI VARASEMAID OSASID
Otsi kanali [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability viimaseid osasid.
MUUD EPISOOD SELLES PODCASTIS
Vastutamatussäte: Sellele lehele manustatud taskuhäälingusaade ja kunstiteosed pärinevad Muhammad A. Alam-lt, mis on selle omaniku omand ja ei ole seotud ettevõttega Listen Notes, Inc.
MUUDA
Aitäh, et aitad hoida podcastide andmebaasi ajakohasena.