Аудиото на този епизод може да е повредено.
How to fix it?
ОТНОСТНО ТОЗИ ЕПИЗОД
Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
Английски
Великобритания
ТЪРСЕНЕ на МИНАЛИ ЕПИЗОДИ
Търсене в минали епизоди на [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
ДРУГИ ЕПИЗОДИ В ТОЗИ ПОДКАСТ
Опровержение: Подкастът и произведенията на изкуството, вградени на тази страница, са от Muhammad A. Alam, което е собственост на неговия собственик и не е свързано с или одобрено от Listen Notes, Inc.
РЕДАКТИРАНЕ
Благодарим Ви, че помогате да поддържаме базата данни за подкастове актуална.