[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
[Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability
✓

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

0
Podcasts
RSS
Link
قد يكون صوت هذه الحلقة معطلاً. How to fix it?

معلومات عن هذه الحلقة

Outline:Background informationNBTI interpreted by R-D modelThe act of measurement and observed quantityNBTI vs. Light-induced DegradationPossibility of Degradation-free TransistorsConclusions
الإنجليزية
المملكة المتحدة
استخدمAPIلجلب هذه الحلقة فيJSON

البحث في الحلقات الماضية

البحث في الحلقات السابقة من [Audio] Nanostructured Electronic Devices: Percolation and Reliability.
تضمين شريط البحث هذا في موقع الويب الخاص بك

حلقات أخرى في هذا البودكاست

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

Lecture 7: On Reliability and Randomness in Electronic Devices

None
المشاركة
حفظ
Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

Lecture 8: Mechanics of Defect Generation and Gate Dielectric Breakdown

None
المشاركة
حفظ
Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

Lecture 5: 2D Nets in a 3D World: Basics of Nanobiosensors and Fractal Antennae

None
المشاركة
حفظ
Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

Lecture 10: Interface Damage & Negative Bias Temperature Instability

None
المشاركة
حفظ
Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

Lecture 9: Breakdown in Thick Dielectrics

None
المشاركة
حفظ
إخلاء المسؤولية: البودكاست والأعمال الفنية المضمنة في هذه الصفحة مأخوذة من Muhammad A. Alam، وهي مملوكة لمالكها وليست تابعة لشركة Listen Notes, Inc أو معتمدة منها.
PROMOTED
Listen411.com: Lightning-fast Podcast Transcription and Summarization. Transcribe 1-hour audio in under 1 minute. Pay-as-you-go.
Listen411.com: Lightning-fast Podcast Transcription and Summarization. Transcribe 1-hour audio in under 1 minute. Pay-as-you-go.
Audio to Text
في مكان آخر
Listen on Amazon Music

التوصيات
استخدم واجهة API لتنفيذ هذه الحلقة